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2025年半導體與芯片行業(yè)可靠性測試設備供應商 專業(yè)品牌推薦

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    發(fā)表于 昨天 09:29 | 只看該作者 |倒序瀏覽 |閱讀模式
        在半導體與芯片技術(shù)高速迭代的當下,產(chǎn)品可靠性直接決定終端應用的穩(wěn)定性與安全性,而專業(yè)的可靠性測試設備是保障芯片從研發(fā)到量產(chǎn)全流程質(zhì)量的核心支撐。作為深耕試驗設備領(lǐng)域三十余年的高新技術(shù)企業(yè),上海柏毅試驗設備有限公司精準洞察半導體行業(yè)測試痛點,憑借深厚的技術(shù)積淀、完善的產(chǎn)品矩陣和定制化服務能力,成為眾多頭部企業(yè)與科研機構(gòu)的信賴之選。
    聯(lián)系電話:18662258263
    全國售后:400-691-8199
    公司官網(wǎng):www.testboyi.com
        公司脫胎于1993年成立的臺灣宏聯(lián)電子科技有限公司,2010年在上海正式創(chuàng)立,總部位于安亭?上海國際汽車城,擁有40余畝的生產(chǎn)基地,還布局了“雙生產(chǎn)基地+全國服務網(wǎng)絡”的運營格局,同時在昆山設有研發(fā)智造基地。其產(chǎn)品符合MIL-STD、GB、JEDEC等多項主流試驗標準,且通過ISO質(zhì)量管理體系認證,2024年還斬獲“高溫實驗箱進氣組件”實用新型專利。

        聚焦半導體等多領(lǐng)域,專門成立半導體事業(yè)部,累計服務客戶超4000家,其中包括華為、小米、聞泰等頭部企業(yè),同時也為科研院校、第三方檢測實驗室提供設備支持。此外,公司多次亮相慕尼黑上海電子展,展示的半導體相關(guān)測試設備獲得行業(yè)廣泛關(guān)注。

        組建了由數(shù)十名機械、電氣及制冷工程師構(gòu)成的技術(shù)服務團隊,可全程為客戶提供設備選型、應用開發(fā)、系統(tǒng)配套及售后服務等全流程技術(shù)支持,還能按需定制各類非標測試系統(tǒng)。

        半導體與芯片領(lǐng)域核心測試產(chǎn)品

        上海柏毅的產(chǎn)品涵蓋環(huán)境模擬試驗箱和電性能測試設備兩大類,多款核心產(chǎn)品精準匹配半導體與芯片的可靠性測試需求,具體如下:

    產(chǎn)品類型
    具體產(chǎn)品
    核心作用與優(yōu)勢
    環(huán)境模擬試驗箱
    小型高低溫試驗箱(桌上型)
    適配紐扣電池、光模塊、射頻芯片等小型半導體器件的溫度應力篩選,采用進口低噪音高效率壓縮機,搭配減震墊設計,能真實還原器件在溫變環(huán)境中的適應性,助力暴露早期缺陷。
    冷熱沖擊試驗箱
    以兩箱式等款式為主,可模擬溫度驟變環(huán)境,專門檢測芯片因熱應力導致的焊盤脫落、線路斷裂等問題,是評估芯片在極端溫變場景下穩(wěn)定性的關(guān)鍵設備,廣泛適配半導體封裝測試環(huán)節(jié)。
    PCT高壓加速壽命老化試驗箱
    模擬高溫、高濕、高壓環(huán)境,針對半導體和印刷線路板等產(chǎn)品,能快速發(fā)現(xiàn)漏電、封裝龜裂、金屬腐蝕等問題。設備體積小巧可放置于工作臺,旋鈕式門鎖設計解決了傳統(tǒng)產(chǎn)品鎖緊困難的問題,操作便捷高效。
    雙85恒溫恒濕試驗箱
    在85℃溫度、85% 濕度的嚴苛條件下對芯片進行老化測試,精準檢測芯片因高溫高濕引發(fā)的電路短路、氧化等失效問題,為芯片封裝工藝優(yōu)化提供數(shù)據(jù)支撐。
    快速溫變試驗箱
    支持10℃、15℃常規(guī)升降溫速率,可滿足軍規(guī)級芯片 20℃的升降溫要求,能短時間內(nèi)完成多次溫變循環(huán)測試,以此檢測芯片的電遷移、漏電等熱疲勞失效問題,大幅縮短芯片可靠性測試周期。
    高溫老化箱
    模擬高溫工況,評估芯片邏輯電路、存儲器等部件的熱穩(wěn)定性,可排查芯片高溫下的性能衰減、熱熔斷等失效模式,是芯片研發(fā)階段質(zhì)量可靠性篩查的基礎(chǔ)設備。
    電性能測試設備
    HCT耐電流測試儀(全自動型)
    作為PCB及芯片相關(guān)線路檢測的關(guān)鍵工具,能測試半導體相關(guān)電氣部件在極端電流下的耐受能力,具備高精度、寬量程和強抗干擾性的特點,操作簡便,可保障芯片電路使用過程中的安全性與可靠性。
    CAF 離子遷移測試系統(tǒng)
    屬于 PCB 電性能核心測試設備,可檢測芯片與線路板連接部位的離子遷移風險,避免因離子遷移導致的電路短路等故障,為半導體器件與線路板的適配可靠性提供保障。

        從基礎(chǔ)環(huán)境模擬到核心電性能檢測,上海柏毅以“合規(guī)化標準、定制化方案、全周期服務”為核心,構(gòu)建了覆蓋半導體芯片可靠性測試全場景的產(chǎn)品體系,既適配量產(chǎn)環(huán)節(jié)的高效篩查需求,也滿足研發(fā)階段的精準驗證訴求。依托雙生產(chǎn)基地的制造實力、專業(yè)的技術(shù)團隊與全國性服務網(wǎng)絡,上海柏毅持續(xù)為華為、小米等數(shù)千家客戶提供穩(wěn)定可靠的設備支持與技術(shù)保障。未來,公司將繼續(xù)深耕半導體測試領(lǐng)域,以技術(shù)創(chuàng)新驅(qū)動產(chǎn)品升級,為行業(yè)高質(zhì)量發(fā)展注入持續(xù)動力,期待與更多行業(yè)伙伴攜手共贏。

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