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標題: 粒子成像測速原理和優(yōu)點 [打印本頁]

作者: 9549872679 時間: 昨天 13:07
標題: 粒子成像測速原理和優(yōu)點
粒子成像測速原理和優(yōu)點基本原理在流場中布撒示蹤粒子，并用脈沖激光片光源入射到所測流場區(qū)域中，粒子成像測速通過連續(xù)兩次或多次曝光，粒子的圖像被記錄在底片上或CCD相機上。采用光學(xué)楊氏條紋法、自相關(guān)法或互相關(guān)法，逐點處理PIV底片或CC 記錄的圖像，獲得流場速度分布。因采用的記錄設(shè)備不同，又分別稱FPIV（用膠片作記錄）和數(shù)字式圖像測速DPW（用CCD相機作記錄）。優(yōu)點粒子成像測速技術(shù)的突出優(yōu)點表現(xiàn)在：（1）是一種非接觸式流動測量方法，突破了空間單點測量（如LDV）的局限性，實現(xiàn)了全流場瞬態(tài)測量；（2）實現(xiàn)了無擾測量，而用畢托管或HWFV等儀器測量時對流場都有一定的干擾；（3）容易求得流場的其他物理量，由于得到的是全場的速度信息，可方便的運用流體運動方程求解諸如壓力場、渦量場等物理信息。因此，該技術(shù)在流體測量中占有重要的地位。尊敬的客戶：本公司還有層析成像系統(tǒng)、全場應(yīng)變DIC、相位多普勒粒子分析儀產(chǎn)品，您可以通過網(wǎng)頁本公司的服務(wù)電話了解更多產(chǎn)品的詳細信息，至善至美的服務(wù)是我們的追求，歡迎新老客戶放心選購自己心儀產(chǎn)品，我們將竭誠為您服務(wù)！

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