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標(biāo)題: 接觸模式-恒高模式 [打印本頁]

作者: 刮刮樂不樂 時(shí)間: 昨天 15:56
標(biāo)題: 接觸模式-恒高模式
在接觸操作模式下，掃描中的懸臂偏轉(zhuǎn)會(huì)反射作用在上的排斥力。
　　在胡克定律下，作用在上的推斥力F與懸臂撓度值x有關(guān)：F = -kx，其中k是懸臂彈簧常數(shù)。不同懸臂的彈簧常數(shù)通常在0.01到幾個(gè)N / m之間變化。
　　在我們的設(shè)備中，垂直懸臂撓度值是通過光學(xué)配準(zhǔn)系統(tǒng)測量的，并轉(zhuǎn)換為電信號DFL。在接觸模式下，DFL信號用作表征與表面之間相互作用力的參數(shù)。DFL值與作用力之間存在線性關(guān)系。在恒定高度操作模式下，顯微鏡的掃描儀將懸臂的固定端保持在恒定高度值上。因此，掃描時(shí)懸臂的撓度反映了所研究樣品的形貌。
　　等高高度模式具有一些優(yōu)點(diǎn)和缺點(diǎn)。
　　恒定高度模式的主要優(yōu)點(diǎn)是掃描速度高。它僅受懸臂的共振頻率限制。
　　等高模式也有一些缺點(diǎn)。樣品必須足夠光滑。當(dāng)探索軟樣品（如聚合物，生物樣品，Langmuir-Blodgett薄膜等）時(shí)，由于探針掃描頭直接與表面接觸，它們可能會(huì)被劃傷而損壞。因此，在掃描具有較高浮雕的軟樣品時(shí)，表面上的壓力會(huì)發(fā)生變化，同時(shí)樣品表面的局部彎曲也會(huì)發(fā)生變化。結(jié)果，可以證明所獲得的樣品的形貌變形。由液體吸附層施加的大量毛細(xì)作用力可能會(huì)降低分離度。

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