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• 透射電子顯微鏡（TEM）：
  
  
  • TEM能夠提供非常高的放大倍數，通?？梢赃_到最高數百萬倍放大。這種顯微鏡通過透射電子束穿透樣品，并收集透過樣品的電子來生成圖像。這使得TEM能夠觀察到原子尺度的細節(jié)。
    
• 掃描電子顯微鏡（SEM）：
  
  
  • SEM也能提供非常高的放大倍數，通常在數千到數十萬倍之間。SEM工作原理是掃描樣品表面并收集與樣品表面相互作用的后向散射電子來生成圖像。SEM主要用于觀察樣品表面的形貌和表面特征。