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標(biāo)題: xray膜厚測試儀測試原理 [打印本頁]

作者: 合凈機械 時間: 2024-12-3 16:28
標(biāo)題: xray膜厚測試儀測試原理
X射線膜厚測試儀的測試原理基于X射線的穿透能力和材料對X射線的吸收特性。當(dāng)X射線穿透被測物體時，不同厚度或密度的材料會對X射線產(chǎn)生不同程度的衰減。這種衰減與材料的厚度、密度以及X射線的能量有關(guān)。通過測量X射線在穿透前后的強度變化，并結(jié)合已知的材料特性和X射線能量，可以計算出材料的厚度。
具體來說，X射線源發(fā)射出一束X射線，這束射線穿過待測薄膜后，其強度會被薄膜部分吸收。剩余的X射線強度被探測器接收并轉(zhuǎn)換為電信號。根據(jù)X射線的初始強度和透過后的強度差，結(jié)合薄膜對X射線的吸收系數(shù)，就可以計算出薄膜的厚度。這種方法具有非破壞性、高精度和快速響應(yīng)的特點，廣泛應(yīng)用于各種薄膜材料的厚度測量。

作者: sss 時間: 2024-12-5 16:49
支持樓主，希望能看到更多高質(zhì)量的帖子。

作者: 嘟嘟可 時間: 2024-12-5 17:56
感謝樓主分享，讓我學(xué)到了不少新東西。

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